分析方法:

能量色散X荧光谱仪无损成分分析

参考数据:

中科院自然科学史研究所《中国科学技术史----陶瓷卷》等

本公司检测利用能量色散X荧光光谱仪对来样进行测试：

1、  来样测试  探测器采集样品的X荧光能量解析生成光谱;

2、  光谱处理  对光谱的谱线强底进行处理和计算转换;

3、  数据分析  分析样品主、次量及微量成分的组成；

4、  出具报告按顾客需求选择出具数据/结论的检测报告